功能測試（全“1”全“0”） 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T17574-1998 IV.3.6
功能測試（全“1”全“0”） 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T17574-1998 IV.3.6
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定
限企業
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服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 功能測試（全“1”全“0”） | GB/T 17574-1998 | 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T17574-1998 IV.3.6 | 能測：管腳數≤512；速率 ≤ 1.6Gbps；施加/測量電流量程：-100mA～+100mA；施加/測量電壓量程：-24V～+24V。 不能測：滯后電壓V<SUB>bys</SUB>、通過時鐘線提供的功率P、輸入阻抗Z<SUB>I</SUB>、輸出阻抗Z<SUB>O</SUB>、分辨時間t<SUB>res</SUB>、轉換時間t<SUB>t</SUB>、時序電路的轉換頻率f<SUB>tr</SUB>。 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
相關標準
《GB/T17574-1998》半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路
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