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導通電阻路差⊿Ron 半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.3

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百檢價： 電議

支持報告類型： 電子報告、紙質報告

支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區： 全國

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣

樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定

限企業
百檢網

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檢測項目：

G
導通電阻路差⊿Ron
服務詳情

檢測標準

檢測項目 檢測標準號 檢測方法名 限制說明
導通電阻路差⊿Ron GB/T 14028-2018 半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.3 能測：導通電阻：0～1MΩ，漏電流：0～500nA，時間：0～13.4s；不能測：模擬電壓工作范圍V<SUB> A </SUB>、截止態源極漏電流I<SUB> S（off）</SUB>、通道轉換時間t<SUB> T </SUB>、最高控制頻率f<SUB> CM </SUB>、截止態隔離度K<SUB> OIRR </SUB>、截止態饋通頻率f<SUB> F </SUB>、導通態串擾衰減α<SUB> X(on)</SUB>、輸入串擾衰減α<SUB> X(IN) </SUB>、控制信號串擾V<SUB> CA </SUB>。

服務簡介


服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。


服務流程



合作機構資質



報告樣例



平臺優勢



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