輸入失調電壓V<Sub>IO</Sub> 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.1 SJ/T 10805-2018/5.1
百檢價: 電議
支持報告類型: 電子報告、紙質報告
支持報告語言: 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質: CMA;CNAS
服務周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)
服務地區: 全國
檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產品質量改進;產品認證;出口通關檢驗等
取樣方式: 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求: 樣品數量及規格等視檢測項而定
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檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
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輸入失調電壓V<Sub>IO</Sub> | GB/T 6798-1996 | 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.1 SJ/T 10805-2018/5.1 | 能測:輸入失調電壓V<SUB>IO</SUB>:20mV,輸入失調電流I<SUB>IO</SUB>:8μA,輸入偏置電流I<SUB>IB</SUB>:8μA,增益40dB~146 dB,輸出高電平電壓V<SUB>OH</SUB>:0~40V,輸出低電平電壓V<SUB>OL</SUB>:0~2V,電流0~400mA;不能測:輸入失調電壓溫度系數α<SUB>VIO</SUB>、輸入失調電流溫度系數α<SUB>IIO</SUB>、輸入偏置電流溫度系數α<SUB>IIB</SUB>、共模抑制比K<SUB>CMR</SUB>、電源電壓抑制比K<SUB>SVR</SUB>、最大共模輸入電壓V<SUB>ICM</SUB>、最大差模輸入電壓V<SUB>IDM</SUB>、開環差模輸入電阻R<SUB>ID</SUB>、開環單端輸出電阻R<SUB>OS</SUB>、低電平選通電流I<SUB>ST(L)</SUB>、高電平選通電流I<SUB>ST(H)</SUB>、響應時間t<SUB>R </SUB>、選通延遲時間t<SUB>ST </SUB>。 |
服務范圍:GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。