輸入失調(diào)電流I<Sub>IO</Sub> 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.3 SJ/T 10805-2018/5.3
輸入失調(diào)電流I<Sub>IO</Sub> 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.3 SJ/T 10805-2018/5.3
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質(zhì)報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS
服務(wù)周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進；產(chǎn)品認證；出口通關(guān)檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 輸入失調(diào)電流I<Sub>IO</Sub> | GB/T 6798-1996 | 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.3 SJ/T 10805-2018/5.3 | 能測：輸入失調(diào)電壓V<SUB>IO</SUB>：20mV，輸入失調(diào)電流I<SUB>IO</SUB>：8μA，輸入偏置電流I<SUB>IB</SUB>：8μA，增益40dB～146 dB，輸出高電平電壓V<SUB>OH</SUB>：0～40V，輸出低電平電壓V<SUB>OL</SUB>：0～2V，電流0～400mA；不能測：輸入失調(diào)電壓溫度系數(shù)α<SUB>VIO</SUB>、輸入失調(diào)電流溫度系數(shù)α<SUB>IIO</SUB>、輸入偏置電流溫度系數(shù)α<SUB>IIB</SUB>、共模抑制比K<SUB>CMR</SUB>、電源電壓抑制比K<SUB>SVR</SUB>、最大共模輸入電壓V<SUB>ICM</SUB>、最大差模輸入電壓V<SUB>IDM</SUB>、開環(huán)差模輸入電阻R<SUB>ID</SUB>、開環(huán)單端輸出電阻R<SUB>OS</SUB>、低電平選通電流I<SUB>ST（L）</SUB>、高電平選通電流I<SUB>ST（H）</SUB>、響應(yīng)時間t<SUB>R </SUB>、選通延遲時間t<SUB>ST </SUB>。 |
服務(wù)簡介
服務(wù)范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。
服務(wù)流程
合作機構(gòu)資質(zhì)
報告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
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