輸入失調電壓V<Sub>IO</Sub> 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000 IV.2.5
輸入失調電壓V<Sub>IO</Sub> 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000 IV.2.5
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定
限企業
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服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 輸入失調電壓V<Sub>IO</Sub> | GB/T 17940-2000 | 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000 IV.2.5 | 能測： 增益：0～140dB，帶寬：0-160MHz，失調電壓： 0～500mV轉換速率： 0～500V/μs電流：0～200mA不能測：輸入失調電壓溫度系數α<SUB> VIO </SUB>、輸入失調電流溫度系數α<SUB> IIO </SUB>、建立時間t<SUB> set </SUB>、開環差模輸入電阻R<SUB> ID </SUB>、開環輸出電阻R<SUB> OS </SUB>、最大共模輸入電壓V<SUB> ICM </SUB>、最大差模輸入電壓V<SUB> IDM </SUB>、最大輸出電流I<SUB> OM </SUB>、輸入偏置電流溫度系數α<SUB> IIB </SUB>、輸出短路電流I<SUB> OS </SUB>、通道分離度C<SUB> SR </SUB>、等效輸入噪聲電壓V<SUB> N </SUB>、響應時間t<SUB> tot </SUB>，t<SUB> d </SUB>，t<SUB> r </SUB>，t<SUB> f </SUB>，t<SUB> rip </SUB>、開環帶寬f<SUB> BW </SUB>、全功率帶寬f<SUB> BWP </SUB>、增益帶寬乘積G?BW。 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
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