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存儲器的特定時間：讀存取時間半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3節(jié) 4.6 d3）

百檢價：電議

支持報告類型：電子報告、紙質(zhì)報告

支持報告語言：中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS

服務(wù)周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務(wù)地區(qū)：全國

檢測用途：電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗等

取樣方式：快遞郵寄或上門取樣

樣品要求：樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定

限企業(yè)

掃碼咨詢立享優(yōu)惠

檢測項目：

服務(wù)詳情

檢測標(biāo)準(zhǔn)

檢測項目	檢測標(biāo)準(zhǔn)號	檢測方法名	限制說明
存儲器的特定時間：讀存取時間	GB/T 17574-1998	半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3節(jié) 4.6 d3）	只測（5ns～10ms）

服務(wù)簡介

服務(wù)范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。

服務(wù)流程

合作機構(gòu)資質(zhì)

報告樣例

平臺優(yōu)勢

百檢介紹

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《GB/T17574-1998》半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2節(jié)/6
《GB/T17574-1998》半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2節(jié) 第4條

延遲時間半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇測試方法第3節(jié) 4.2

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延遲時間半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3節(jié) 4.2

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輸入低電平電流I<Sub>IL 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇測試方法第2節(jié) 2

輸入低電平電流I_{IL 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇測試方法第2節(jié) 2}

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