輸入低電平電流I<Sub>IL 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.13
輸入低電平電流I<Sub>IL 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.13
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質(zhì)報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS
服務(wù)周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
檢測標(biāo)準(zhǔn)
| 檢測項目 | 檢測標(biāo)準(zhǔn)號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 輸入低電平電流I<Sub>IL | SJ/T 10735-1996 | 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.13 | 只測 （-250mA～250mA） |
服務(wù)簡介
服務(wù)范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。
服務(wù)流程
合作機構(gòu)資質(zhì)
報告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導(dǎo)體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《SJ/T11281-2017Cl.3》發(fā)光二極管(LED)顯示屏測試方法
關(guān)于我們 萬檢（上海）信息科技有限公司（簡稱：百檢網(wǎng)）是國內(nèi)知名B2B檢測電商服務(wù)平臺，專注于為第三方 檢測機構(gòu)以及中小微企業(yè)及個人用戶搭建互聯(lián)網(wǎng)+檢測電商服務(wù)平臺。平臺匯集了國內(nèi)外權(quán)威檢測機構(gòu)（CNAS/CMA）,其中不乏國家級、省級重點實驗室以及國際知名檢測機構(gòu)，為廣大用戶提供一站式檢測服務(wù)。
客服熱線 400-101-7153 專屬服務(wù)：156 0190 2607 企業(yè)郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯(lián)系地址：上海市徐匯區(qū)宜山路700號
微信公眾號
官方微博
百檢集團
滬ICP備19010749號經(jīng)營許可證編號:滬B2-20190666Copyright@2019www.szlhsb.comAll Rights Reserved
- 微信客服
- 電話咨詢
- QQ客服
返回頂部
400-101-7153
15201733840