服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 掃描電子顯微鏡檢查 | GJB 3233-1998 | 半導體集成電路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.3.4 | / |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
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