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集電極-發射極飽和電壓V<Sub>CE(sat)</Sub> 《半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法》 GB/T 15651.3-2003 5.6

集電極-發射極飽和電壓V<Sub>CE(sat)</Sub> 《半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法》 GB/T 15651.3-2003 5.6

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百檢價： 電議

支持報告類型： 電子報告、紙質報告

支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區： 全國

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣

樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定

限企業
百檢網

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檢測項目：

G
集電極-發射極飽和電壓V<Sub>CE(sat)</Sub>
服務詳情

檢測標準

檢測項目 檢測標準號 檢測方法名 限制說明
集電極-發射極飽和電壓V<Sub>CE(sat)</Sub> GB/T 15651.3-2003 《半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法》 GB/T 15651.3-2003 5.6 只測常溫電壓：（-10～+10）V;

服務簡介


服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。


服務流程



合作機構資質



報告樣例



平臺優勢



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