掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2077
掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2077
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定
限企業
掃碼咨詢立享優惠
服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 | GJB 128A-1997 | 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2077 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
相關標準
《GB/T28204-2011》家用和類似用途膜狀電熱元件
《IEC61439-5:2014》低壓成套開關設備和控制設備 第5部分：公用電網電力配電成套設備
《GB/T21711.1-2008;IEC61810-1:2003,2019(ed4.1)》基礎機電繼電器 第1部分：總則與安全要求
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