高溫壽命試驗 基于集成電路失效機理的應力測試認證要求 AEC-Q100-Rev-H：2014
高溫壽命試驗 基于集成電路失效機理的應力測試認證要求 AEC-Q100-Rev-H：2014
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
限企業(yè)
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 高溫壽命試驗 | AEC-Q100-Rev-H：2014 | 基于集成電路失效機理的應力測試認證要求 AEC-Q100-Rev-H：2014 | 只測： 85℃～150℃ |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
相關標準
《GB/T17574-1998》半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路
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