X射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作項目1101 2.3、1102 2.3、1103 2.3、1002 2.3、1003 2.3
X射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作項目1101 2.3、1102 2.3、1103 2.3、1002 2.3、1003 2.3
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
限企業(yè)
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| X射線檢查 | GJB 4027A-2006 | 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作項目1101 2.3、1102 2.3、1103 2.3、1002 2.3、1003 2.3 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
相關標準
《SJ/T11141-2017Cl.6》發(fā)光二極管(LED)顯示屏通用規(guī)范
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《SJ/T11281-2017Cl.3》發(fā)光二極管(LED)顯示屏測試方法
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半導體器件–分立器件–第5-5部分:光電子器件–光電耦合器
《SJ/T11281-2017Cl.3》發(fā)光二極管(LED)顯示屏測試方法
熱門推薦
全行業(yè)甄選實驗室
最快1天出報告
全程管控、質量保障
省錢、省時、省力
關于我們 萬檢（上海）信息科技有限公司（簡稱：百檢網）是國內知名B2B檢測電商服務平臺，專注于為第三方 檢測機構以及中小微企業(yè)及個人用戶搭建互聯(lián)網+檢測電商服務平臺。平臺匯集了國內外權威檢測機構（CNAS/CMA）,其中不乏國家級、省級重點實驗室以及國際知名檢測機構，為廣大用戶提供一站式檢測服務。
客服熱線 400-101-7153 專屬服務：156 0190 2607 企業(yè)郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯(lián)系地址：上海市徐匯區(qū)宜山路700號
關注百檢 
微信公眾號
官方微博
百檢集團
滬ICP備19010749號經營許可證編號:滬B2-20190666Copyright@2019www.szlhsb.comAll Rights Reserved
- 微信客服
- 電話咨詢
- QQ客服
返回頂部
400-101-7153
15201733840