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集電極開路時，發(fā)射極與基極間反向擊穿電壓VEBO 半導體器件.分立器件.第7部分:雙極晶體管 IEC 60747-7(Edition 3.0 2010-12) 6.2.8

百檢價：電議

支持報告類型：電子報告、紙質報告

支持報告語言：中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區(qū)：全國

檢測用途：電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式：快遞郵寄或上門取樣

樣品要求：樣品數量及規(guī)格等視檢測項而定

限企業(yè)

掃碼咨詢立享優(yōu)惠

檢測項目：

服務詳情

檢測標準

檢測項目	檢測標準號	檢測方法名	限制說明
集電極開路時，發(fā)射極與基極間反向擊穿電壓V<sub>EBO</sub>	IEC 60747-7	半導體器件.分立器件.第7部分:雙極晶體管 IEC 60747-7(Edition 3.0 2010-12) 6.2.8

服務簡介

服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。

服務流程

合作機構資質

報告樣例

平臺優(yōu)勢

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(結柵型, 絕緣柵耗盡型):G-S關斷電壓V_GS(off)； (絕緣柵增強型):G-S閾值電壓V_GS(th) 半導體器件.分立器件.第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.2

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(結柵型, 絕緣柵耗盡型,絕緣柵增強型):崩潰電壓V<sub>(BR)DSS</sub> 半導體器件.分立器件.第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.1

(結柵型, 絕緣柵耗盡型,絕緣柵增強型):崩潰電壓V_(BR)DSS 半導體器件.分立器件.第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.1

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(絕緣柵增強型I_DSS)或(結柵型,絕緣柵耗盡型):漏極關斷電流I_DSX 半導體器件.分立器件.第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.3

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客服熱線 400-101-7153 專屬服務：156 0190 2607 企業(yè)郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯(lián)系地址：上海市徐匯區(qū)宜山路700號

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