發(fā)光強度 半導體分立器件和集成電路.第5-3部分:光電子器.測量方法 IEC 60747-5-3-2009 3.1
發(fā)光強度 半導體分立器件和集成電路.第5-3部分:光電子器.測量方法 IEC 60747-5-3-2009 3.1
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質(zhì)報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進；產(chǎn)品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 發(fā)光強度 | IEC 60747-5-3 | 半導體分立器件和集成電路.第5-3部分:光電子器.測量方法 IEC 60747-5-3-2009 3.1 | 只測：波長在可見光范圍 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。
服務流程
合作機構(gòu)資質(zhì)
報告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
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