粒子碰撞噪聲檢測(PIND) 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701
粒子碰撞噪聲檢測(PIND) 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定
限企業
掃碼咨詢立享優惠
服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 粒子碰撞噪聲檢測(PIND) | GJB 4027A-2006 | 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
相關標準
《GB/T 6040-2019》紅外光譜分析方法通則 GB/T 6040-2019
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.5
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.2
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.3.5
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.3.1
《GB/T 31838.2-2019》固體絕緣材料 介電和電阻特性 第2部分：電阻特性(DC方法) 體積電阻和體積電阻率 GB/T 31838.2-2019
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.3.3
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.5
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.2
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.3.5
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.3.1
《GB/T 31838.2-2019》固體絕緣材料 介電和電阻特性 第2部分：電阻特性(DC方法) 體積電阻和體積電阻率 GB/T 31838.2-2019
《SJ/T 11394-2009》半導體發光二極管測試方法 SJ/T 11394-2009 5.3.3
全行業甄選實驗室
最快1天出報告
全程管控、質量保障
省錢、省時、省力
關于我們 萬檢（上海）信息科技有限公司（簡稱：百檢網）是國內知名B2B檢測電商服務平臺，專注于為第三方 檢測機構以及中小微企業及個人用戶搭建互聯網+檢測電商服務平臺。平臺匯集了國內外權威檢測機構（CNAS/CMA）,其中不乏國家級、省級重點實驗室以及國際知名檢測機構，為廣大用戶提供一站式檢測服務。
客服熱線 400-101-7153 專屬服務：156 0190 2607 企業郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯系地址：上海市徐匯區宜山路700號
關注百檢 
微信公眾號
官方微博
百檢集團
滬ICP備19010749號經營許可證編號:滬B2-20190666Copyright@2019www.szlhsb.comAll Rights Reserved
- 微信客服
- 電話咨詢
- QQ客服
返回頂部
400-101-7153
15201733840