X射線照相 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 方法2076
X射線照相 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 方法2076
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質量改進；產(chǎn)品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
限企業(yè)
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| X射線照相 | GJB 128A-1997 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 方法2076 | 只測: 靶功率:≤20W; 最小特征尺寸:0.35μm； 最大檢測面積:(458×407)mm<Sup>2</Sup> |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
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