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結-殼瞬態熱阻抗和熱阻半導體器件-分立器件-第8部分: 場效應晶體管 IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 6.3.20

百檢價：電議

支持報告類型：電子報告、紙質報告

支持報告語言：中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區：全國

檢測用途：電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式：快遞郵寄或上門取樣

樣品要求：樣品數量及規格等視檢測項而定

限企業

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檢測項目：

服務詳情

檢測標準

檢測項目	檢測標準號	檢測方法名	限制說明
結-殼瞬態熱阻抗和熱阻	IEC 60747-8	半導體器件-分立器件-第8部分: 場效應晶體管 IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 6.3.20	只測：加熱電流≤100A

服務簡介

服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。

服務流程

合作機構資質

報告樣例

平臺優勢

百檢介紹

相關標準

《ASTM F1845-08（2016）》使用高質量分辯率輝光放電質譜儀測量電子級鋁銅、鋁硅和鋁銅硅中痕量金屬雜質的測試方法 ASTM F1845-08（2016）
《SJ/T11504-2015》碳化硅單晶拋光片表面質量的測試方法 SJ/T11504-2015
《GB/T4023-2015》半導體分立器件第2部分：整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.2
《 GB/T 4023-2015》半導體分立器件和集成電路第2部分：整流二極管 GB/T 4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半導體分立器件第2部分：整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T4023-2015》半導體分立器件第2部分：整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半導體分立器件和集成電路第2部分：整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半導體分立器件和集成電路第2部分：整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T 4937.4-2012》半導體器件機械和氣候試驗方法第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST） GB/T 4937.4-2012

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低溫試驗電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008

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高溫試驗電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫 GB/T2423.2-2008

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