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X射線照相 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法 5003 微電路的失效分析程序

X射線照相 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法 5003 微電路的失效分析程序

X射線照相 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法 5003 微電路的失效分析程序

百檢價： 電議

支持報告類型： 電子報告、紙質報告

支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區： 全國

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣

樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定

限企業
百檢網

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檢測項目：

G
X射線照相
服務詳情

檢測標準

檢測項目 檢測標準號 檢測方法名 限制說明
X射線照相 GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法 5003 微電路的失效分析程序 不做:3.1.2、3.2.2、 3.2.5、3.2.10、3.3.2、3.3.3、3.4(a、b、c、d、g)

服務簡介


服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。


服務流程



合作機構資質



報告樣例



平臺優勢



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