輸入失調(diào)電壓 <I>V</I><Sub>IO</Sub> 《半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理》 SJ/T10738-1996 2.1
百檢價: 電議
支持報告類型: 電子報告、紙質(zhì)報告
支持報告語言: 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質(zhì): CMA;CNAS
服務(wù)周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)
服務(wù)地區(qū): 全國
檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進;產(chǎn)品認證;出口通關(guān)檢驗等
取樣方式: 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求: 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
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輸入失調(diào)電壓 <I>V</I><Sub>IO</Sub> | SJ/T 10738-1996 | 《半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理》 SJ/T10738-1996 2.1 | 只測: 電壓范圍:-100mV~+100mV。針對特定產(chǎn)品與特定用戶。 |
服務(wù)范圍:GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。