集電極-發(fā)射極飽和電壓 <I>V</I><Sub>CE(sat)</Sub> 半導(dǎo)分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003 5.6.1
集電極-發(fā)射極飽和電壓 <I>V</I><Sub>CE(sat)</Sub> 半導(dǎo)分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003 5.6.1
百檢價(jià)： 電議
支持報(bào)告類型： 電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告
支持報(bào)告語言： 中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告
報(bào)告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS
服務(wù)周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項(xiàng)而定
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
檢測標(biāo)準(zhǔn)
| 檢測項(xiàng)目 | 檢測標(biāo)準(zhǔn)號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 集電極-發(fā)射極飽和電壓 <I>V</I><Sub>CE(sat)</Sub> | GB/T 15651.3-2003 | 半導(dǎo)分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003 5.6.1 | 只測：0V～±30V |
服務(wù)簡介
服務(wù)范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。
服務(wù)流程
合作機(jī)構(gòu)資質(zhì)
報(bào)告樣例
平臺優(yōu)勢
百檢介紹
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