IP暗噪聲、IP響應均勻性及一致性、IP響應線性、IP通過量、IP擦除完全性、照射量指示校準、激光束功能、空間分辯力與分辯力重復性、低對比度細節探測、空間距離準確性、濾線柵效應)混疊( 計算機X射線攝影(CR)質量控制檢測規范/WS 520—2017
百檢價: 電議
支持報告類型: 電子報告、紙質報告
支持報告語言: 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質: CMA;CNAS
服務周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)
服務地區: 全國
檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產品質量改進;產品認證;出口通關檢驗等
取樣方式: 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求: 樣品數量及規格等視檢測項而定
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檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
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IP暗噪聲、IP響應均勻性及一致性、IP響應線性、IP通過量、IP擦除完全性、照射量指示校準、激光束功能、空間分辯力與分辯力重復性、低對比度細節探測、空間距離準確性、濾線柵效應)混疊( | WS 520-2017 | 計算機X射線攝影(CR)質量控制檢測規范/WS 520—2017 | 適用于醫用計算機X射線攝影(CR)質量控制檢測,不適用于乳腺和牙科專用計算機X射線攝影的質量控制檢測/標準變更 |
服務范圍:GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。