《GB 17625.2-2007》電磁兼容 限值 對(duì)每相額定電流≤16 A 且無(wú)條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動(dòng)和閃爍的限制 GB 17625.2-2007
《SJ/T 10325-92》汽車(chē)收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法 5.2 碰撞試驗(yàn) SJ/T 10325-92
《GB/T2423.22-2012》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 GB/T2423.22-2012
《GB/T 12165-1998》盒式磁帶錄音機(jī)可靠性要求和試驗(yàn)方法 GB/T 12165-1998
《GJB150.18A -2009》軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第18部分: 沖擊試驗(yàn) GJB150.18A -2009
《GB/T2423.4-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008
《GJB150.16A -2009》軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分:振動(dòng)試驗(yàn) GJB150.16A -2009
《GB/T2423.1-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 GB/T2423.1-2008
《GB/T2423.2-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 GB/T2423.2-2008
《GB/T2423.3-2016》環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T2423.3-2016