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高溫反偏半導體器件的環境試驗方法第1部分：方法1000至1999 MIL-STD-750-1A w/CHANGE 3

百檢價：電議

支持報告類型：電子報告、紙質報告

支持報告語言：中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區：全國

檢測用途：電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式：快遞郵寄或上門取樣

樣品要求：樣品數量及規格等視檢測項而定

限企業

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檢測項目：

服務詳情

檢測標準

檢測項目	檢測標準號	檢測方法名	限制說明
高溫反偏	MIL-STD- 750-1A w/CHANGE	半導體器件的環境試驗方法第1部分：方法1000至1999 MIL-STD-750-1A w/CHANGE 3	只做試驗條件A

服務簡介

服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。

服務流程

合作機構資質

報告樣例

平臺優勢

百檢介紹

相關標準

《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T6571-1995》半導體器件分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第1節/2
《GB/T6571-1995》半導體器件分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第1節/1
《GB/T6571-1995》半導體器件分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第2節/1
《IEC 60747-3-2013》半導體器件分立器件第3部分：分立器件：信號，開關和整流二極管 IEC 60747-3-2013 6.2.2

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