作者:宋檢 時間:2022-11-01 來源:互聯網
氫化物發生-原子熒光光譜法測定痕量鍺已得到廣泛的應用,但此種方法對溶礦溫度要求比較苛刻,過高將造成Ge的損失;過低則HNO3和有機質難以除盡,二者的存在都會干擾測定。
原子熒光法測Ge 的干擾主要有可形成氫化物元素之間在傳輸及原子化過程中產生的氣相干擾,因Sb 、Bi 、Se 等可形成氫化物元素在地質樣品中的含量較低,通常不會造成干擾;而As的含量則相對高一些,所以其對Ge 的干擾顯得較為突出。
基于此,本文從樣品處理和測定條件兩方面著手,研究了樣品處理過程中各種酸對Ge的影響及測定時干擾的消除,擬定了一套操作更簡便、測定更準確的分析方法。
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