根據(jù)振動三綜合測試機構(gòu)的闡述,振動試驗主要有四種,即掃頻振動試驗、振動疲勞試驗,振動噪聲試驗和隨機振動試驗。目的是考核微電路在不同振動條件下的結(jié)構(gòu)牢固性和電特性的穩(wěn)定性。
1.掃頻振動試驗使微電路作等幅諧振動,其加速度峰值一般分為196m/s:(20e)、490m/s2(50g)和686m/s2(70g)三檔.振動頻率從20Hz一2000Hz范圍內(nèi)隨時間校對數(shù)變化。振動頻率從20Hz~2000Hz再回到20Hz的時間要求不小于4mm,并且在互相垂直的三個方向上(其中一個方向與芯片垂直)各進行五次。
2.振動疲勞試驗也要使微電路作等幅諧振動,但是其振動頻率是固定的,一般為幾十到幾百赫茲,其加速度峰值一般也分為196m/s2(20g)、490m/s2(50g)和686m/s2(70g)三檔。在互相垂直的三個方向上(其中一個方向與芯片垂直)各進行一次,每次的時間大約為32h。
3.振動噪聲試驗的試驗條件與掃頗振動試驗基本相同。使微電路作等幅諧振動,其加速度峰值一般不小于196m/s2(20g).振動頻率從20Hs一2000Hz范圍內(nèi)隨時間按對數(shù)變化.振動頻率從20Hz一2000Hz再回到20Hz的時間要求不小于4min,并且在互相垂直的三個方向上(其中一個方向與芯片垂直)各進行1次。
4.隨機振動試驗的試驗條件是模擬各種現(xiàn)代化現(xiàn)場環(huán)境下可能產(chǎn)生的振動。隨機振動的振幅具有高斯分布。加速度譜密度與頻率的關(guān)系是特定的。頻率范圍為幾十到2000Hz。
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