鑄鋼件的射線檢測標準中，國標閥門采用*多的是JB/T6440《閥門受壓鑄鋼件射線照相檢測》，美標閥門采用*多的是ASME B16.34《法蘭、螺紋和焊接端連接的閥門》。

■ 檢測技術等級

JB/T6440規定了檢測技術等級，分為A級、AB級和B級。不同的技術等級，其關于膠片類別、增感屏、放射源和高能X射線的透照厚度范圍、射線源到工件表面的*小距離、曝光量、黑度、像質計靈敏度的要求不相同。而ASME B16.34及ASTM E94沒有相關規定。

■ 膠片類別

JB/T6440規定，A級或AB級檢測技術*低要求采用T3類膠片，B級檢測技術*低要求采用T2類膠片。利用γ射線檢測裂紋敏感性大的材料時，*低要求采用T2類膠片。而ASME B16.34規定，膠片粒度要等于或細于ASTM E94中的2(II) 型。

■ 增感屏

JB/T6440詳細規定了不使用增感屏或使用金屬增感屏時不同能量的X射線和不同的放射源所對應的增感屏材料和厚度。ASME B16.34沒有相關規定，ASME E94僅描述了前后鉛屏的作用，規定了γ射線檢測時前屏的*小厚度，Ir192源為0.13mm，Co60源為0.25mm。

■ 透照厚度范圍

JB/T6440規定了常規X射線不同透照厚度時的*高管電壓，及不同檢測技術等級采用γ射線源和不同能量的高能X射線適用的透照厚度范圍。ASME B16.34沒有相關規定，ASME E94僅描述了射線能量對成像質量的影響，即一般情況下能量越低所獲得的圖像對比度越好。

■ 射線源到工件表面的*小距離

JB/T6440通過規定射線源到工件表面的*小距離來控制幾何不清晰度。不同檢測技術等級，射線源到工件表面的*小距離不同：

A級檢測技術：f≥7.5dt2/3;AB級檢測技術：f≥10dt2/3;B級檢測技術：f≥15dt2/3;

式中：f—射線源至工件表面距離;d—有效焦點尺寸;t—透照厚度。

只要底片質量符合標準要求，采用中心內透法時，f值可以減小，但減小值不得超過規定值的50%;采用偏心內透法時，f值可以減小，但減小值不得超過規定值的20%。

而ASME E94直接規定了幾何不清晰度，其公式為：Ug=Ft/Do;

式中：Ug—幾何不清晰度;F—有效焦點尺寸;t—工件射線源一側到膠片的距離;Do—射線源至工件表面距離。

■ 曝光量

JB/T6440規定，X射線照相，當焦距為700mm時曝光量的推薦值為：A級和AB級檢測技術不小于15mA.min;B級檢測技術不小于20mA.min。采用γ射線透照時，總的曝光時間不得少于輸送源往返所需時間的10倍。而ASME B16.34及ASTM E94沒有相關規定。