作者:百檢網 時間:2022-07-28
1. 高溫儲存
電子元件的故障主要是由體內和表面的各種物理和化學變化引起的,與溫度密切相關。溫度升高后,化學反應速度大大加快,故障過程也加快。使有缺陷的部件能夠及時暴露和消除。高溫篩選廣泛應用于半導體設備中,可有效消除表面沽污、鍵合不良、氧化層缺陷等失效機理的器件。通常在*高結溫下儲存24-168小時。高溫篩選簡單易行,成本低,可在許多元器件上實施。通過高溫儲存還可以穩定元件的參數性能,減少使用中的參數漂移。
2. 功率電老煉
在篩選過程中,在熱電應力的共同作用下,可以很好地暴露元器件內部和表面的各種潛在缺陷,是可靠性篩選的重要項目。功率老煉需要特殊的試驗設備,成本高,篩選時間不宜過長。
3. 溫度循環
電子產品在使用過程中會遇到不同的環境溫度條件。在熱膨脹和冷收縮的應力作用下,熱匹配性能差的元器件容易失效。溫度循環篩選采用*高溫和*低溫之間的熱膨脹和冷收縮應力,能有效的剔除有熱性能缺陷的產品。
4. 離心加速度
離心加速度試驗又稱恒應力加速度試驗。該篩選通常在半導體器件上進行,利用高速旋轉產生的離心力作用于器件,可以剔除鍵合強度過弱、內引線匹配不良和裝架不良的器件。
5. 監測振動和沖擊
對產品進行振動或沖擊試驗時的電氣性能監測通常被稱為監測振動或監測沖擊試驗。該試驗可模擬產品使用過程中的振動和沖擊環境,能有效地剔除瞬時短、斷路等機械結構不良的元器件以及整機中的虛焊等故障。監測振動和沖擊是高可靠繼電器、連接器和軍用電子設備的重要篩選項目。監測振動和沖擊需要特殊的試驗設備,成本昂貴,一般不用于民用電子產品。
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