作者:百檢網 時間:2022-07-28
接線端子溫升試驗是將接線端子(或連接器)及其絕緣外殼作為一個整體在額定電流、過電流以及短路情況下進行測試。接線端子因焦耳效應引起的溫升應盡可能小, 這就要求回路中的接觸電阻很低。接線端子溫升測試需記錄室溫下端子施加測試電流后的溫升數(shù)據(jù)。
除非另作規(guī)定,例如指定使用與電氣設備一致的電流值,否則端子或連接器在試驗中一律采用各自的額定電流值。符合連接器標準IEC512-3、接線端子標準IEC-60998-1/EN 60998-1/DIN-VDE 0613標準第1部分的接線端子(或連接器)以及符合IEC-60947-7-1/EN 60947-7-1/DIN-VDE 0611標準第1部分的軌裝式接線端子在試驗中的溫升值均不得超過45k,連接器標準規(guī)定溫升不超過30K為原則。
例如:環(huán)境溫度為25℃,測量溫度為70℃,這時溫升就是70℃-25℃=45K,超過這個溫度,接線端子就不合格。
用戶在選擇接插式連接器時需注意連接器的結構要求及電流承載能力的大小。
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