BS PD IEC/TS 61967-3-2014 集成電路.電磁輻射的測量.放射形輻射測量.表面掃描法
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：集成電路.電磁輻射的測量.放射形輻射測量.表面掃描法
英文標準名稱：Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions. Measurement of radiated emissions. Surface scan metho
標準類型：L56
發布日期：2014/9/30 12:00:00
實施日期：2014/9/30 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
引用標準：IEC 60050;IEC 61967-1;IEC 61967-6;IEC TR 61967-1-1
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《EN 62479:2010》證明低功率電子和電氣設備符合有關人暴露于電磁場(10 MHz～300 GHz)基本限制的通用標準 EN 62479:2010 Clause 4
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《EN 50401:2017》無線電基站設備(110 MHz ~ 100 GHz) 的產品標準 EN 50401:2017 Clause 5, 6
《AS/NZS 2772.2: 2016》澳大利亞/新西蘭標準電磁暴露要求第二部分 測試方法及計算 AS/NZS 2772.2: 2016 3, 4, 5
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