BS EN 60749-4-2002 半導體器件.機械和氣候試驗方法.濕熱、穩態態、高加速應力試驗（HAST）
作者：百檢網 時間：2021-08-02
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.濕熱、穩態態、高加速應力試驗（HAST）
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
標準類型：L40
發布日期：2002/9/10 12:00:00
實施日期：2002/9/10 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
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