GB/T 4377-2018 半導體集成電路 電壓調整器測試方法
作者：百檢網 時間：2021-07-13
中文標準名稱：半導體集成電路 電壓調整器測試方法
英文標準名稱：Semiconductor integrated circuits.Measuring method of voltage regulators
標準類型：L56
發布日期：2018/3/15 12:00:00
實施日期：2018/8/1 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
適用范圍：本標準規定了電壓調整器(以下稱為器件)參數測試方法。本標準適用于半導體集成電路領域中電壓調整器參數的測試。
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