? ? ? ?ContourGT-X是新一代白光干涉儀,結合了先進的64位多核操作和分析處理軟件,是歷年來來*先進的3D光學表面輪廓儀系統。該系統擁有超大視野內亞埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界*高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研和質量控制應用中,*廣泛使用和*直觀的3D表面計量平臺。
應用范圍
? ? ? ?從小至微米級別的微機電器件(MEMS),大到整個引擎部件,都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓、膜厚等數據。對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等,提供全方位非接觸式測量方案。
檢測案例
電路板表面的突起
普通樣品的表面粗糙度測量
鋼球樣品的拼接圖片
送樣要求
塊體樣品:1*1cm2即可,如果樣品測試的面積比較大(大于1.5mm),需要根據拼接。
測試說明
1.三維形貌掃描區域—般提供3個區域,對于非均勻樣品,不一定保證可以掃到滿意結果。
2三維形貌輪廓儀掃描—次*大范圍是1.69mm *1.26mm,如果需測試樣品表面范圍較大,需進行拼接。
3.測試樣品的表面需具有一定的反光率,樣品臺階的高度不能大于10mm。
4.特殊要求請提前備注說明。
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