AEC-Q100(H):2014
作者：百檢網 時間：2022-08-16
檢測標準/方法：基于失效故障機制的集成電路應力測試認證要求 AEC-Q100(H):2014 表2，測試A3，加速耐濕性無偏置高加速溫度濕度應力測試
檢測對象：半導體
檢測項目/參數：無偏高加速溫濕試驗
說明（限制范圍）：只測溫度：（110~130）℃，相對濕度：85%RH，只用于車載器件，不測試驗前后的電性測試
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