作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-09-15 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)
元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和工藝等任何因素都有可能引起元器件的制造質(zhì)量不同,導(dǎo)致元器件無(wú)法滿足預(yù)定用途或有關(guān)規(guī)范的要求;另一方面,在裝機(jī)后出現(xiàn)的相關(guān)問(wèn)題,將推高整改與制造成本。因此,盡早預(yù)防使用有明顯或潛在缺陷的元器件,并提出批次處理意見(jiàn)和改進(jìn)措施,對(duì)提高電子元器件的使用可靠性、并*終提升電子設(shè)備的質(zhì)量顯得尤為重要。
產(chǎn)品范圍:
覆蓋所有種類(lèi)和封裝的電子元器件型號(hào),包含:電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧振器;繼電器;半導(dǎo)體分立器件(二*管、三*管、場(chǎng)效應(yīng)管、達(dá)林頓陣列、半導(dǎo)體光電子器件等);電連接器;開(kāi)關(guān)及面板元件;半導(dǎo)體集成電路(時(shí)基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動(dòng)器、電平轉(zhuǎn)換器、門(mén)器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類(lèi)芯片(穩(wěn)壓器、開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(A/D、D/A、SRD)、存儲(chǔ)器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等);濾波器;電源模塊;IGBT等。
測(cè)試項(xiàng)目 | 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及方法 | 樣品要求 |
外部目檢 Visual Inspection |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
X光檢查 X-ray Inspection |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
粒子噪聲檢查 PIND |
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物理檢查 Physical Check |
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氣密性檢查 Airproof Check |
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內(nèi)部水汽 Internal Vapor Analysis |
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開(kāi)封 Decap |
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內(nèi)部目檢 Internal Inspection |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
電鏡能譜 SEM/EDAX |
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超聲波檢查 C-SAM |
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引出端強(qiáng)度 Terminal strength |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
拉拔力 Pull Test |
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切片 Cross-section |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
粘接強(qiáng)度 Attachment’s strength |
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鈍化層完整性 Integrality Inspection for Glass Passivation |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
制樣鏡檢 Sampling with Microscope |
GJB4027或按客戶要求 | 按規(guī)范要求進(jìn)行抽樣 |
引線鍵合強(qiáng)度 bonding strength |
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接觸件檢查 Contact Check |
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剪切強(qiáng)度測(cè)試 Shear Test |
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1、檢測(cè)行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測(cè);
2、實(shí)驗(yàn)室全覆蓋,就近分配本地化檢測(cè);
3、工程師一對(duì)一服務(wù),讓檢測(cè)更精準(zhǔn);
4、免費(fèi)初檢,初檢不收取檢測(cè)費(fèi)用;
5、自助下單 快遞免費(fèi)上門(mén)取樣;
6、周期短,費(fèi)用低,服務(wù)周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);
8、檢測(cè)報(bào)告權(quán)威有效、中國(guó)通用;
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