晶片襯底檢測去哪里做?百檢網(wǎng)檢測實(shí)驗(yàn)室可對(duì)各類晶片襯底檢測，出具第三方晶片襯底檢測報(bào)告。

樣品類型

　　硅片(Silicon Wafers)，銻化鎵(GaSb Wafers)，磷化銦(InP Wafers)，鍺(Ge Wafers)，砷化銦(InAs Wafers)，銻化銦(InSb Wafers)，鈦酸鍶(SrTiO3)，AXT砷化鎵(GaAs Wafers)等。

檢測指標(biāo)

　　質(zhì)量檢測等。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

　　GB/T 26071-2018太陽能電池用硅單晶片

　　T/IAWBS 013-2019半絕緣碳化硅單晶片電阻率非接觸測量方法

　　YS/T 679-2018非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長度的測試 表面光電壓法

百檢網(wǎng)檢測特色

　　1、百檢網(wǎng)是集體所有制檢驗(yàn)中心，實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及質(zhì)量檢驗(yàn)時(shí)間短,花費(fèi)低,實(shí)驗(yàn)方案完備，出具的檢驗(yàn)報(bào)告科學(xué)、公正、準(zhǔn)確。

　　2、百檢網(wǎng)國內(nèi)多所實(shí)驗(yàn)室分支，支持國內(nèi)上門取樣/寄樣檢測!

　　3、實(shí)驗(yàn)精確度高百檢網(wǎng)具備認(rèn)可的科研成果檢測資格，檢驗(yàn)報(bào)告可以通過國內(nèi)二維碼防偽系統(tǒng)查詢真?zhèn)巍?/p>

　　4、百檢網(wǎng)具有**的檢測儀器,各種檢測儀器及設(shè)備300百多臺(tái)套。

　　5、百檢網(wǎng)資質(zhì)百檢網(wǎng)具有計(jì)量認(rèn)證(CMA)，資質(zhì)齊全，有保障，出具規(guī)范的檢驗(yàn)報(bào)告

　　6、支持36種語言編寫MSDS服務(wù)。

　　7、所有實(shí)驗(yàn)都簽訂保密協(xié)議，注重保護(hù)客戶隱私。

　　8、百檢網(wǎng)與眾多企業(yè)，高校，科研院所等保持合作關(guān)系，以科學(xué)研究為己任，不斷提高自身檢測水平，致力于搭建覆蓋全國，服務(wù)全球的檢測分析平臺(tái)。

晶片襯底測定流程

　　1、郵寄寄樣或上門取樣

　　2、工程師初步檢測

　　3、根據(jù)試驗(yàn)復(fù)雜程度及樣品數(shù)量報(bào)價(jià)

　　4、雙方確定簽訂保密協(xié)議，實(shí)驗(yàn)室開始實(shí)驗(yàn)

　　5、完成實(shí)驗(yàn)：檢測周期一般在7-15個(gè)工作日(部分特殊試驗(yàn)周期會(huì)延長)，可咨詢工程師

　　6、出具檢驗(yàn)報(bào)告，后期服務(wù)。