作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-09-15 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)
x射線光電子能譜分析去哪里做?X射線光電子能譜儀(X-rayPhotoelectron Spectroscopy 簡(jiǎn)稱XPS),又被稱為化學(xué)分析電子能譜儀(ESCA),是一種常規(guī)的表面成分分析技術(shù),除了可以表征材料的成分組成,還可以表征各成分的化學(xué)狀態(tài),并可定量表征每種成分的相對(duì)含量。
(1)元素定性分析;(2)元素定量分折;(3)固體表面分析;(4)化合物結(jié)構(gòu)鑒定
GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
2GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
3GB/T 25184-2010X射線光電子能譜儀檢定方法
4GB/T 25185-2010表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告
5GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測(cè)量 X射線光電子能譜法
6GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測(cè)定
7GB/T 28633-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
8GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述
9GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息
10GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定
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