作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-09-15 來源:互聯(lián)網(wǎng)
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM),是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。
透射電鏡作為材料表征的重要手段,不僅可以用衍射模式來研究晶體的結(jié)構(gòu),還可以在成像模式下得到實(shí)空間的高分辨像,即對材料中的原子進(jìn)行直接成像,直接觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)。
GB/T 28044-2011納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法通則
5GB/T 33839-2017基于生物效應(yīng)含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測方法
6GB/T 34002-2017微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
7GB/T 34168-2017金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法
8GB/T 35098-2018微束分析 透射電子顯微術(shù) 植物病毒形態(tài)學(xué)的透射電子顯微鏡鑒定方法
1、百檢網(wǎng)透射電鏡檢測中心資質(zhì)齊全,CMA資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測機(jī)構(gòu)。
2、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,博士團(tuán)隊(duì),歐美進(jìn)口檢測設(shè)備,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
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