AES分析去哪里做?俄歇電子能譜法是用具有一定能量的電子束(或X射線)激發(fā)樣品俄歇效應，通過檢測俄歇電子的能量和強度，從而獲得有關(guān)材料表面化學成分和結(jié)構(gòu)的信息的方法。利用受激原子俄歇躍遷退激過程發(fā)射的俄歇電子對試樣微區(qū)的表面成分進行的定性定量分析。

檢測范圍

　　固體表面的能帶結(jié)構(gòu)、表面物理化學性質(zhì)的變化(如表面吸附、脫附以及表面化學反應);用于材料組分的確定、純度的檢測、材料尤其是薄膜材料的生長等。

檢測標準

　　4GB/T 25934.3-2010高純金化學分析方法 第3部分：乙醚萃取分離ICP-AES法 測定雜質(zhì)元素的含量

　　5GB/T 27598-2011照相化學品 無機物中微量元素的分析 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)法

　　6GB/T 32179-2015耐火材料化學分析 濕法、原子吸收光譜法(AAS)和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)的一般要求

　　7GB/T 32565-2016表面化學分析俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

　　8GB/T 34326-2017表面化學分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析時離子束對準方法及其束流或束流密度測量方法

　　9GB/T 34333-2017耐火材料 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)分析方法

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AES分析流程

　　1、前期咨詢

　　2、郵寄AES分析樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。