充電器可靠性檢測之低氣壓測試目的,一些帶電產品想要上架出售就必須辦理可靠性檢測。充電器(充電機)按設計電路工作頻率來分,可分為工頻機和高頻機.工頻機是以傳統(tǒng)的模擬電路原理來設計,機器內部電力器件(如變壓器、電感、電容器等)都較大,一般在帶載較大運行時存在較小噪聲,但該機型在惡劣的電網(wǎng)環(huán)境條件中耐抗性能較強,可靠性及穩(wěn)定性均比高頻機強.需要辦理可靠性檢測可聯(lián)系百檢網(wǎng)檢測。
提到可靠性測試,就離不開電子產品的相關檢測,今天億博小編就來給大家普及一下電子產品的可靠性測試之低氣壓測試。
**,什么是低氣壓測試?
低氣壓試驗就是將試驗樣品放入試驗箱(室),然后將箱(室)內氣壓降低到有關標準規(guī)定的值,并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在貯存、運輸和使用中對低氣壓環(huán)境的適應性。通常高低溫環(huán)境結合低氣壓構成綜合環(huán)境應力來評價產品的失效機理等。
其次,來介紹一下可靠性的低氣壓測試相關標準:
1. GB/T 2421.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 概述和指南》
2. GB/T 2423.21-2008《電工電子產品環(huán)境試程 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》
3. GB/T 2423.25-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗》
4. GB/T 2423.26-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗》
5. GB/T 2423.27-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗》
6. GB/T 2424.15-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則》
7. GJB 150.2A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第二部分 低氣壓(高度)試驗》
8. GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗方法 方法105 低氣壓試驗》
那么,可靠性的低氣壓測試試驗目的是:
由于大氣壓的降低,產品的機械性能和電氣性能都會受到很大影響,有時會導致產品的破壞。由于高度的增加,大氣壓的降低,大氣密度的降低,空氣也變得稀薄。在我們考慮的高度范圍內(低于3000米),空氣中分子的平均自由程仍然很小,大氣仍可看成是連續(xù)介質流體,空氣的流動特性和熱力學特性在低氣壓條件下于正常大氣條件下一樣遵循相同的物理規(guī)律,但低氣壓的情況與正常大氣相比,產品會受到不同的影響。
例如產品散熱情況于正常大氣條件不同。由此可知,低氣壓條件下,輻射散熱所占比例增大,對流散熱所占比例降低,此外由于大氣密度的降低,散熱產品周圍介質條件也將發(fā)生變化。低氣壓對產品的影響在正常大氣條件下是無法模擬的,因此必須進行低氣壓試驗。
由于氣壓低,產品的機械和電氣性能都會受到很大影響,有時會導致產品的損壞。低氣壓環(huán)境條件對產品的影響在正常大氣條件下是無法模擬的,必須按相關標準進行試驗。只有這樣,產品質量才能得到保證。
接下來,可靠性的低氣壓測試試驗影響:
氣壓降低對產品的直接影響主要是氣壓變化產生的壓差作用。這對于密封產品的外殼會產生一個壓力,在這個壓力的作用下會使密封破壞。然而氣壓降低的主意作用還在于因氣壓降低伴隨著大氣密度的降低及空氣的平均自由程增大,有次會使產品的性能受到很大影響。
散熱產品的溫升隨大氣壓降低而增加。電工電子產品有相當一部分是發(fā)熱產品,如電機、變壓器、接觸器、電阻器等。這些產品在使用中要消耗一部分電能變成為熱能,這樣產品會發(fā)熱,溫度升高。產品因發(fā)熱而使溫度升高,這溫度升高部分稱之為溫升。散熱產品的溫升隨大氣壓的降低而增加,隨海撥高度的增加而增加。導致產品的性能下降或運行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。
低氣壓對密封產品的影響。 低氣壓對密封產品的影響主要是由于大氣壓的變化形成壓差。壓差引起一個從高壓指向低壓的力。在該力作用下,使氣體流動來達到平衡。而對于密封產品,其外殼將承受此力。此力可以使外殼變形、密封件破裂造成產品失效。
低氣壓對電性能的影響。海撥高度增加氣壓降低,對電工電子產品的電氣性能也會產生影響。特別是以空氣作為絕緣介質的設備,低氣壓對設備的影響更為顯著。在正常大氣條件下,空氣可以是較好的絕緣介質,許多電氣產品以空氣為絕緣介質。這些產品用于高海撥地區(qū)或作為機載設備時,由于大氣壓降低,常常在電場較強的電*附近產生局部放電現(xiàn)象,稱之為電暈。更嚴重的是,有時會發(fā)生空氣間隙擊穿。這意味著設備的 正常工作狀態(tài)被破壞。
在低氣壓下,特別是伴隨高溫條件時空氣介電強度顯著降低,即電暈起始電壓和擊穿電壓顯著降低,從而使電弧.表面放電或電暈放電的危險性增加。
*后,可靠性的低氣壓測試嚴酷等級:
相關標準規(guī)定溫度、氣壓和暴露持續(xù)時間表示試驗嚴酷等級,下表為GB/T 2423.25-2008中低溫/低氣壓綜合試驗優(yōu)選組合: