? ? ? ?JEMARM 20OF球差電鏡是一款原子級分析型透射電鏡，擁有****的STEM-HAADF像分辨率(78pm)，無論是20OkV的高加速電壓還是在30kv的低加速電壓下，均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統(tǒng)，可以自動進行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)(e-ABF法)可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度）圖像。ARM20OF在保證亞納米分辨率0.078nm的同時，能量分辨率提高到了0.3eV，*大增強了原子級觀察和原子級分析能力。
應(yīng)用范圍
形貌分析：通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，同時還可通過明場像、暗場像對樣品的質(zhì)厚襯度像、衍襯像進行進—步的表征。
結(jié)構(gòu)分析：觀察研究材料結(jié)構(gòu)并進行原子尺度的微分析，如:原子像，選區(qū)電子衍射，會聚束電子衍射等。
成分分析：可在原子尺度對樣品進行成分分析，可選擇性的對樣品進行能譜點測、能譜線掃、能譜面分布分析，獲得樣品中的元素在一個點、—條線、—個面上的分布情況。
送樣要求
粉末樣品:樣品量≥2mg(不接收強磁性樣品)。
液體樣品:樣品量≥0.5ml(不接收強磁性樣品)。
塊體樣品:樣品尺寸≥3mm,若小于該尺寸請聯(lián)系在線客服具體確認(rèn)。
測試說明
1.粉末和液體樣品要保證樣品中沒有過多的有機物和表面活性劑。
2.樣品上球差電鏡前*好用普通場發(fā)射電鏡篩選下。
3.原子相測試主要包括HAADF暗場像拍攝，特別是原子相拍攝。另外可以附加一張非原子級的EDSmapping，如果需要該項，需要提前備注，并不默認(rèn)提供。
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