???中廣測設立掃描電鏡實驗室,配備HITACHI S-3700N掃描電子顯微鏡和HORIBA EMAX能譜儀。掃描電鏡X射線能譜是各類材料超微觀結構分析和微區化學成分定性、定量分析的常用分析儀器,可以對固體物質的微區形貌和成分特征同時進行直觀、精確、快速、無損的分析。廣泛應用于地質、冶金、化工、陶瓷、金屬、新型材料、生物、刑偵等領域,業務范圍包括:金屬、陶瓷、礦物、半導體、塑料、玻璃等樣品的微觀形貌觀察;材料斷口、表面形貌、變形層等的觀察和成像;金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定;晶體結構的觀察與分析;材料微區化學成分的定性、定量分析,元素在材料表面的分布(點、線、面)分析;薄膜材料分析等。同時還可以為高等院校師生提供上機實踐。
主要技術指標:?
⑴分辨率:3nm(SE 30kV)10mm(BSE 30kV)
⑵放大倍率:5~300000倍
⑶加速電壓:0.3~30kV(可連續掃描)
⑷*大可載樣品直徑:300mm
⑸*大觀察區域直徑:200mm
(6)元素檢測范圍:Be4~U92
**會員
中國廣州分析測試中心
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