? ? ? ?Tecnai G2 F30 S-TWIN透射電子顯微鏡是一個(gè)真正多功能、多用戶環(huán)境的30OkV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明場(chǎng)、暗場(chǎng)像和高分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，能進(jìn)行EDX能潛分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EDX點(diǎn)線、面掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能潛分析。該儀器還配備了相關(guān)的制樣設(shè)備，包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄囂和凹坑儀等，可以進(jìn)行金屆、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。該儀器可廣泛應(yīng)用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科研，是研究各種材料的超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的大型精密儀器。

應(yīng)用范圍

形貌分析：通過(guò)形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，同時(shí)還可通過(guò)明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像對(duì)樣品的質(zhì)厚襯度像、衍襯像進(jìn)行進(jìn)—步的表征。

結(jié)構(gòu)分析：觀察研究材料結(jié)構(gòu)并進(jìn)行納米尺度的微分析，如:高分辨晶格條紋像，選區(qū)電子衍射，會(huì)聚束電子衍射等。

成分分析：可對(duì)小到幾納米的微區(qū)或晶粒的進(jìn)行成分分析，可選擇性的對(duì)樣品進(jìn)行能譜點(diǎn)測(cè)、能譜線掃、能譜面分布分析，獲得樣品中的元素在一個(gè)點(diǎn)、一條線、一個(gè)面上的分布情況。

檢測(cè)案例

送樣要求：

粉末樣品:樣品量≥2mg(磁性樣品必須由承方制樣)。

液體樣品:樣品量≥0.5ml(磁性樣品必須由承檢方制樣)。

塊體樣品:樣品尺寸≥3mm,若小于該尺寸請(qǐng)聯(lián)系在線客服具體確認(rèn)。

測(cè)試說(shuō)明

1.形貌像測(cè)試我們會(huì)提供11張左右照片，形貌加高分辨提供17張左右，能譜點(diǎn)測(cè)兩處位置，電子衍射1處，能譜面分布/能譜線掃提供一處位置，且面分布不提供元素比例，若需提供，請(qǐng)選擇面分布+能譜比例。HAADF暗場(chǎng)像提供4張照片，一般/中心暗場(chǎng)像提供一張圖片。

2.不需要形貌像的測(cè)試，普通樣品加收150元基礎(chǔ)上機(jī)費(fèi)用，磁性樣品300元基礎(chǔ)上機(jī)費(fèi)。

3.對(duì)于碳量子點(diǎn)/銀簇/銅簇等粒徑小于5nm的量子點(diǎn)，如未發(fā)現(xiàn)，收取100元基礎(chǔ)上機(jī)費(fèi)用。
4.納米材料制樣默認(rèn)的支持膜為銅材質(zhì)超薄碳支持膜，支持膜的主要成分為Cu/C/O/H,如做能譜表征需要避開Cu元素的干擾，請(qǐng)注明使用非銅材質(zhì)的支持膜。
5.零維納米材料和三維納米材料（如量子點(diǎn)/納米顆粒）一般都是使用超薄碳支持膜，一維納米材料和二維納米材料（如納米線/石墨烯）一般使用帶孔的微柵支持膜，如果只拍形貌像介意背景上有孔，請(qǐng)注明使用普通支持膜，清晰度可能會(huì)不高。
6.選區(qū)電子衍射測(cè)試對(duì)于納米材料來(lái)說(shuō)晶粒比較小，無(wú)法踩正帶軸，選擇普通電子衍射測(cè)試即可；對(duì)于塊體樣品我們可提供踩正帶軸的服務(wù)，收費(fèi)為150元/位置，請(qǐng)說(shuō)明針對(duì)哪些物相采正帶軸。

7.對(duì)于離子減薄制樣中的常規(guī)韌性材料指Al/Cu/Fe/Co/Ni/Ti等金屬；脆性材料指陶瓷材料/粉末燒結(jié)的脆性材料/高熵合金/甩帶材料/非晶材料等，如NdFeB、Cu-石墨、BaTiO3等；軟硬相間的材料指由兩種硬度差別比較大的金屬組成的合金如WCu合金,TiAl, Ni3Al等；易氧化的材料指Mg Zn Sn等金屬及其合金；超硬材料指硬度大于SiC的各種材料，如Al2O3, MgO, SiO2, SiC, Si3N4等。

8.針對(duì)離子減薄樣品，由于樣品本身情況造成的拍攝不成功，制樣費(fèi)和基本上機(jī)費(fèi)（普通樣品200元；磁性樣品300元）正常收取。（例：金屬樣品析出相/特定物質(zhì)分布不均或數(shù)量特別少而導(dǎo)致的拍攝不成功）。

9.對(duì)于樣品的磁性及疏松情況和顆粒之間結(jié)合力請(qǐng)仔細(xì)確認(rèn)，如磁性脆性的NdFeB，無(wú)壓燒結(jié)的陶瓷樣品等。否則因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，您將承擔(dān)全部賠償責(zé)任。

10.檢測(cè)周期：5個(gè)工作日（默認(rèn)）;10個(gè)工作日（減薄制樣+測(cè)試）；超薄切片10個(gè)工作日。若樣品特殊（非常規(guī)塊體）或數(shù)量較多（≥5），檢測(cè)周期可能會(huì)有所延長(zhǎng)，具體可詢問(wèn)客服人員。

11.如因儀器損壞等不可抗力造成檢測(cè)周期延誤的，我們會(huì)**時(shí)間通知您而無(wú)須承擔(dān)檢測(cè)周期延誤的責(zé)任。

12.生物樣本請(qǐng)優(yōu)先選擇鎢燈絲透射電鏡進(jìn)行測(cè)試，如必須打能譜或看高分辨再選擇場(chǎng)發(fā)射電鏡。