作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
冷場發射掃描電子顯微鏡是對樣品表面形貌進行測試的一種大型儀器。通過樣品中的電子激發出的各種信號,掃描電鏡可以做出電子圖像分析,如可利用二次電子進行樣品表面形貌及結構分析的分析;以兩片探測器信號做積分運算,通過背散射電子可以分析樣品表面成分圖像,以兩片探測器信號做微分運算時,則可用于樣品表面形貌圖像的分析;此外,通過透射電子則可對析晶體的內部結構及晶格信息進行分析。
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