作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
高分辨透射電子顯微鏡(TEM)服務簡介:JEM-2100F 應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。
利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發射電子槍,輕松實現各種分析功能。
高分辨透射電子顯微鏡(TEM)主要特點:
1.高亮度場發射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側插測角臺,更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍,無機械飄移。
4.穩定性好、操作簡便。
5.微處理器和PC兩套系統控制,防止死機。
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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