作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
分辨率: 高真空成像,*佳工作距離 0.8 nm @ 30kV (STEM) 1.0 nm @ 15 kV (TLD-SE) 1.4 nm @ 1 kV (TLD-SE),非減速模式 3.5 nm @ 100 V (DBS) 高真空分析,分析工作距離 3.0nm @ 15 kV & 5nA (TLD-SE) 低真空成像, *佳工作距離 1.5 nm @ 10 kV (Helix探測器) 1.8 nm @ 3 kV (Helix探測器)
對樣品進行形貌觀察和成分分析。 主要應用于納米顆粒與粉末,納米管和納米線,催化劑和發光材料
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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