作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
1.安裝輪緣:DN 150CF 2.溫度范圍:130 - 650 K(SPM),1000 K(STM) 3.溫度穩定性:更好±2 K(150K ... 1000 K) 4.原位接入:鏡面和蒸發 5.掃描范圍:1.500 nm x 1.500 nm 6.敏感Z范圍:±175 nm 7.速度:*高1毫米/分鐘 8.漂移率:<0.05 nm / min(垂直),<0.15 nm / min(水平) 9.穩定性:<10 pm 10.溫度控制:2個受控子系統,用于樣品和掃描儀
Aarhus 150-MBE-BO-III-V-4Z/Multiprobe 2/2 HRSEM: *大1''的基板尺寸可以直接從沉積室轉移到SPM。 通過使用夾緊機構,樣品架可以固定到SPM上。 由此可以達到與10mm×10mm基板相同的穩定性。 由于額外的基板加熱器,溫度可以在測量期間設置為130 K至650 K(對于具有KolibriSensor的SPM)或1000 K(具有STM**)。 因此,新鮮生長的薄MBE薄膜的SPM研究可以在沒有污染的情況下進行,甚至在較高溫度下也可以在較大的基底上進行。
生長的薄MBE薄膜的SPM研究可以在沒有污染的情況下進行,甚至在較高溫度下也可以在較大的基底上進行,和SPM檢測。
3000元/樣品
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