•48個雙向RF端口，用于Tx和Rx測試 •可選高功率RF，*高可達+35 dBm •高達6 GHz的RF信號生成和采集，帶有200 MHz矢量帶寬 •完整的RF測量庫，用于EVM，功率電平伺服，ACP，IP3，噪聲系數，頻譜模板和Tx功率，適用于GSM，CDMA2000，EV-DO，TD-SCDMA，WCDMA，LTE，LTE**，802.11 a / b / g / n / p / j / ac / ah / af，以及藍牙1.x到5.0 LE •諧波測量高達18 GHz •256個數字通道 •4個高功率直流通道（3 A連續和10 A突發） •8個DC通道（每通道500 mA） •4通道數字轉換器10位，5 GS / S，1.5 GHz（1 GB） •8位數字化儀12位，60 MS / s，60 MHz（512 MB） •2通道AWG 16位，400 MS / s

NI半導體測試系統（STS）是一種集成的自動測試解決方案（ATE），用于晶圓或封裝零件的半導體混合信號器件測試。 NI STS由一種將NI儀器和I / O硬件與多功能軟件相結合的配置組成一個靈活的半導體測試解決方案。 NI STS軟件包括開發，調試和部署測試程序所需的軟件。 這里提出的系統配置描述了與工業標準第三方控制器，負載板和對接板接口的可交付測試器。 NI提供直觀的半導體測試軟件應用程序，允許用戶輕松構建引腳/通道映射，STDF數據庫集成，處理程序/探測器接口以及其他支持真正多端點測試的功能。

測量數據： •S參數 •蜂窩：LTE / LTE-Advanced，WCDMA，EVDO，CDMA2k，GSM / Edge等。 •WLAN 802.11a，b，g，n，ac，ah •藍牙 •通用：頻譜分析，解調 •**：包絡跟蹤，數字預失真（DPD） •噪音系數

2000元/樣品

請聯系重點實驗室相關對外服務負責人