服務領域： 分析樣品的微觀結構,具有高真空、低真空和ESEM？環境真空三種真空模式，適合分析*廣泛的樣品范圍，從傳統的金屬材料、斷口和拋光斷面，到不導電的軟物質。電鏡還可作為一個微觀實驗室。安裝特殊的原位樣品臺后，在從- 165 oC到1500oC溫度范圍內，對多種樣品保持其原始狀態下進行動態原位分析。 技術指標： （1）Quanta 250可用于不同的真空模式以分析導電及不導電樣品并同時收集表征表面形貌和元素襯度信息的二次電子像和背散射像； （2）*大程度降低樣品制備：低真空/環境掃描可確保對不導電樣品及含水樣品進行無表面荷電的成像和分析； （3）高真空模式圖像分辨率為：二次電子像3.0nm@30kV, 8.0nm@3kV, 及背散射電子像4nm@30kV； （4）低真空模式圖像分辨率為：二次電子像3.0nm@30kV, 10nm@3kV, 及背散射電子像4.0nm@30kV （低真空下低加速電壓性能保證了對不導電的細小顆粒在不改變其表面真實形貌的成像）； （5）在環境掃描模式下樣品室內氣壓可達4000Pa，其圖像分辨率為二次電子像3.0nm@30kV。 生產廠商： FEI公司 儀器國別： 啟用時間： 2011-07-13 儀器認證： 企業出廠認證 安放地點： 主要用途： 主要附件及功能： ETD，LFD,BSED,ESEM