1 范圍

GB/T4937的本部分規(guī)定了半導(dǎo)體器件的鹽霧試驗(yàn)方法,以確定半導(dǎo)體器件耐腐蝕的能力。本試驗(yàn)是模擬嚴(yán)酷的海邊大氣對(duì)器件暴露表面影響的加速試驗(yàn)。適用于工作在海上和沿海地區(qū)的器件。

本試驗(yàn)是破壞性試驗(yàn)。

本試驗(yàn)總體上符合IEC60068-2-11,但鑒于半導(dǎo)體器件的特殊要求,采用本部分的條款。

2 規(guī)范性引用文件

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IEC60749-14半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第14部分:引出端強(qiáng)度(引線牢固性)[Semi conductor devicesMechanical and climatic test methods-Part 14: Robustness of terminations(lead integrity)]

IEC60068-2-11環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧( Environmental testing-Part2: Tests-Test Ka: Salt mist)

3 試驗(yàn)設(shè)備

鹽霧試驗(yàn)所用設(shè)備應(yīng)包括:

a)帶有耐腐蝕的支撐器件夾具的溫控試驗(yàn)箱;

b)鹽溶液槽:所用的鹽應(yīng)為無(wú)水氯化鈉,其碘化鈉的質(zhì)量分?jǐn)?shù)不超過(guò)0.1%,且總雜質(zhì)的含量不超過(guò)0.3%,蒸餾水(或使用的其他水)的雜質(zhì)含量不超過(guò)200×10-6,應(yīng)通過(guò)過(guò)濾以控制溶液的雜質(zhì)含量,為了達(dá)到第4章所要求的沉降率,去離子水或蒸餾水鹽溶液的鹽濃度應(yīng)為05%~3%(質(zhì)量百分比);

c)使鹽液霧化的裝置,包括合適的噴嘴和壓縮空氣源;

d)高于箱內(nèi)溫度的某溫度下,保持空氣潮濕的裝置;

e)1倍~3倍、10倍~20倍的放大鏡。

4 程序

按4.1的要求預(yù)處理之后,試驗(yàn)樣品應(yīng)按如下方式放置在試驗(yàn)箱里,使它們彼此不接觸,彼此不遮擋,能自由地接受鹽霧作用腐蝕生成物和凝聚物不會(huì)從一個(gè)樣品滴落在另一個(gè)樣品上。試驗(yàn)箱中噴霧的保持時(shí)間應(yīng)按4.2試驗(yàn)條件的要求執(zhí)行。試驗(yàn)期間,試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度應(yīng)保持在(35±2)℃,鹽霧的濃度和噴出速度應(yīng)調(diào)節(jié)到使試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)鹽沉降率為(30±10)g/(m2·d)。在不低于35℃測(cè)量時(shí),鹽溶液的pH值應(yīng)在60~7.5之間[只能用化學(xué)純(CP級(jí))的鹽酸或氫氧化鈉(稀溶液)來(lái)調(diào)整pH值]。

4.1 預(yù)處理

若規(guī)定了預(yù)處理,試驗(yàn)樣品在進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)之前,器件引線應(yīng)按IEC60749-14規(guī)定的試驗(yàn)條件B的要求,承受彎曲應(yīng)力的預(yù)處理。如果進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)的樣品已經(jīng)作為其他試驗(yàn)的一部分進(jìn)行過(guò)所要求的預(yù)處理,其引線無(wú)需重新彎曲

4.2 試驗(yàn)時(shí)間

應(yīng)從表1中選取鹽霧試驗(yàn)的時(shí)間。除另有規(guī)定外,應(yīng)采用試驗(yàn)條件A

4.3 清洗

除另有規(guī)定外試驗(yàn)結(jié)束后,樣品表面的沉淀物應(yīng)按如下方式進(jìn)行處理可用清水輕輕沖洗去掉試驗(yàn)樣品表面沉淀的鹽;也可以將樣品浸泡在水里,用軟毛刷或軟塑料刷輕輕地刷洗。水溫不應(yīng)超過(guò)40℃。

4.4 失效判據(jù)

器件出現(xiàn)以下情況判為失效:

a)在室內(nèi)正常照明下,放大1倍~3倍檢查,標(biāo)識(shí)模糊

b)腐蝕缺陷面積超過(guò)任何封裝零件(例如蓋板、引線或外殼)鍍涂或底金屬面積的5%;引線缺損、斷裂;放大10倍~20倍檢查,完全貫穿零件的腐蝕。在此試驗(yàn)方法中,腐蝕定義為對(duì)材料

或涂層結(jié)構(gòu)的實(shí)際損壞。褪色或變色,包括與點(diǎn)腐蝕有關(guān)的褪色或變色,不應(yīng)認(rèn)為是受損區(qū)域的一部分。引線末端的腐蝕(和由此產(chǎn)生的腐蝕生成物)應(yīng)忽略。

注:涂層需覆蓋封裝和從引線根部到**的整個(gè)暴露的引線區(qū)域(不包括特定的彎折區(qū)域)和所有其他暴露的金屬表面。

5 說(shuō)明

相關(guān)文件應(yīng)規(guī)定以下內(nèi)容:

a)預(yù)處理,適用時(shí)(見(jiàn)4.1);

b)試驗(yàn)條件,如果和試驗(yàn)條件A不同(見(jiàn)4,2);

c)清洗程序,如果和43的規(guī)定不同;

d)失效判據(jù),如果和44的規(guī)定不同;

樣本大小和可接收的數(shù)量

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