測(cè)試項(xiàng)目：金屬平均晶粒度測(cè)試
測(cè)試目的：測(cè)量金屬平均晶粒度級(jí)別，適用于平面晶粒度的測(cè)量且只測(cè)量晶粒度單峰分布試樣的平均晶粒度
項(xiàng)目介紹：晶粒度是晶粒大小的量度，金屬晶粒的大小對(duì)材料的機(jī)械性能、耐腐蝕性能等，均存在不同程度的影響。晶粒的大小通常可以使用長(zhǎng)度、面積、體積或晶粒度級(jí)別數(shù)表示，使用晶粒度級(jí)別數(shù)表示的晶粒度級(jí)別數(shù)與測(cè)量方法和使用單位無(wú)關(guān)。金屬材料平均晶粒度的測(cè)定常用比較法，也可采用截點(diǎn)法和面積法，有爭(zhēng)議時(shí)采用截點(diǎn)法。通常情況下不同種類(lèi)的材料有不同的晶粒度形成和顯示的方法，常用的晶粒度形成及顯示方法包括：滲碳法、鐵素體網(wǎng)法、氧化法、直接淬硬法、滲碳體網(wǎng)法和細(xì)珠光體網(wǎng)法。評(píng)定平均晶粒度的試樣的截取需遵循一定的原則，對(duì)于有加工變形晶粒的試樣其檢驗(yàn)面一般平行于加工方向，必要時(shí)可以垂直于加工方向，等軸晶晶粒的試樣可隨機(jī)選取檢驗(yàn)面。
測(cè)試要求：
| 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)
| 樣品要求
| 測(cè)試內(nèi)容
| 適用范圍
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| GB/T 6394-2017
| 金屬平均晶粒度測(cè)定方法
| 鋼件半徑或邊長(zhǎng)1/2處截取，推薦試樣尺寸10mm*10mm（避開(kāi)有剪切、加熱影響的區(qū)域）
| 晶粒度級(jí)別數(shù) （特殊要求可加出，晶粒平均截距,單位面積內(nèi)晶粒數(shù)）
| 適用于鐵素體鋼，奧氏體鋼及銅，鋁，鎂，鋅和鎳等金屬材料及制品
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| ASTM E112-2013
| 平均晶粒度測(cè)定的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
| 五個(gè)測(cè)試區(qū)域，*小的拋光面積達(dá)到160mm2
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| YS/T 347-2004
| 銅及銅合金 平均晶粒度測(cè)定方法
| 板帶材：取15mm*15mm正方形樣 管棒材：沿軸向取10mm到15mm長(zhǎng)圓環(huán)樣或圓片樣
| 適用于銅及銅合金材料及制品
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400-101-7153
15201733840
